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1.1 核能释放物理基础

1.1.1 放热核反应——裂变和聚变

1.1.2 重核裂变与链式反应

1.1.3 核裂变放能过程

1.1.4 轻核聚变

1.1.5 某些重要的聚变反应

1.1.6 热核聚变反应率

1.2 激光聚变

1.2.1 热核聚变及途径

1.2.2 用于驱动聚变的高功率激光器

1.2.3 激光聚变驱动方案

1.2.4 激光聚变靶

1.2.5 高功率激光与靶耦合

1.2.6 内爆动力学

1.2.7 聚变点火与燃烧

1.2.8 聚变靶丸能量增益

1.2.9 惯性约束聚变能和激光惯性约束聚变裂变引擎

1.2.10 激光聚变需要诊断的主要物理量特征和对诊断系统的要求

参考文献

第2章 热核燃料等离子体状态与聚变速率诊断

2.1 聚变燃料等离子体状态——密度和面密度诊断

2.1.1 聚变中子内活化方法

2.1.2 聚变中子在燃料等离子体中产生的反冲核方法

2.1.3 燃料初级与次级聚变产额比方法

2.1.4 聚变产物高能质子用于靶丸面密度等诊断

2.1.5 D核削裂反应产物——高能质子诊断靶丸面密度

2.1.6 带电粒子测量方法

2.2 聚变燃料等离子体状态——离子温度诊断

2.2.1 测量初级聚变反应产物粒子能谱诊断离子温度

2.2.2 不同聚变反应道聚变产额比诊断离子温度

2.3 聚变产额测量方法

2.3.1 中、低聚变中子产额测量方法

2.3.2 高聚变中子产额测量方法

2.4 惯性约束聚变反应速率诊断

2.4.1 引言

2.4.2 聚变中子时间谱测量方法

2.4.3 聚变γ时间谱测量方法

2.4.4 中子非弹散射（n，n’γ）产生的γ射线诊断聚变反应速率

2.5 脉冲γ射线和轫致辐射测量方法

2.5.1 γ射线和轫致辐射能谱测量方法

2.5.2 冷壳或冷燃料与热燃料混合诊断方法

参考文献

第3章 激光等离子体电子温度密度诊断技术

3.0 引言

3.1 冕区等离子体物理

3.1.1 逆韧致吸收

3.1.2 参量不稳定性——SRS、SBS

3.1.3 参量不稳定性——成丝与自聚焦

3.2 影响冕区等离子体状态的其他重要过程

3.2.1 电子热传导

3.2.2 X射线转换

3.3 Thomson散射简介

3.3.1 Thomson散射参数诊断应用原理

3.3.2 Thomson散射参数诊断设计概述

3.3.3 Thomson散射参数诊断应用

3.4 相邻元素共振线强度比诊断电子温度

3.5 共振线与伴线强度比诊断电子温度

3.6 Stark展宽效应诊断电子密度

3.7 激光探针法诊断冕区电子密度分布

3.8 X射线激光探针诊断等离子体电子密度

3.8.1 X射线激光探针方法基本原理

3.8.2 X射线激光用做探针光源的要求

3.8.3 X射线激光干涉法测量电子密度研究

3.8.4 莫尔偏折法测量电子密度分布

3.9 用X射线汤姆逊散射诊断等离子体参数

参考文献

第4章 X射线谱学、辐射温度和不透明度诊断

4.1 高 温、高密度等离子体发射的X射线谱特性

4.1.1 引言

4.1.2 高温、高密度等离子体发射的X射线光谱特性

4.2 X射线线谱测量

4.2.1 X射线与物质相互作用

4.2.2 X射线线谱测量方法

4.3 辐射温度诊断

4.3.1 黑体辐射和辐射温度

4.3.2 辐射能流和谱积分亮温诊断技术

4.3.3 色温诊断技术

4.3.4 通过热动平衡系统离子温度诊断辐射温

4.4 辐射不透明度诊断

4.4.1 辐射不透明度

4.4.2 几种典型的辐射不透明度理论模型

4.4.3 辐射不透明度测量

参考文献

第5章 ICF实验精密成像技术

5.1 引言

5.2 X射线针孔成像技术

5.2.1 针孔成像技术原理

5.2.2 X射线针孔成像涉及的一些技术

5.3 X射线编码成像技术

5.3.1 引言

5.3.2 波带片编码成像基本原理

5.3.3 波带片编码成像的数学表述

5.3.4 波带片编码成像的数值重建

5.3.5 其他的编码成像技术及其简单对比

5.4 反射式X射线成像系统

5.4.1 引言

5.4.2 反射式成像原理与结构

5.4.3 反射式系统空间分辨影响因素分析

5.4.4 掠射反射系统在ICF中的应用

5.5 基于衍射光学元件的X射线成像技术

5.5.1 引言

5.5.2 X射线衍射成像原理

5.5.3 衍射元件制作与空间分辨

5.5.4 X射线衍射成像在lCF中的应用

5.6 X射线背光照相技术

5.6.1 X射线背光照相原理

5.6.2 X射线背光源

5.6.3 成像与图像记录

5.6.4 背光成像在ICF中的应用

5.7 聚变中子成像技术

5.7.1 引言

5.7.2 中子半影编码成像技术

5.7.3 编码孔设计与加工

5.7.4 成像系统瞄准技术

5.7.5 中子记录介质

5.8 高能质子透视成像技术

5.8.1 引言

5.8.2 质子照相原理

5.8.3 质子源的产生及特性

5.8.4 质子照相中的图像记录

5.8.5 质子照相中的图像分析

5.8.6 质子照相应用实例

参考文献

第6章 惯性约束聚变诊断中常用的探测器件和测量仪器

6.1 ps和sub—ns时间响应闪烁体光电探测器

6.1.1 闪烁体

6.1.2 真空型光电器件

6.1.3 闪烁体光电探测器时间响应

6.2 Si PIN电流型探测器

6.2.1 Si PIN探测器结构和工作原理

6.2.2 Si PIN探测器对辐射和粒子的响应

6.2.3 Si PIN探测器时间响应

6.2.4 Si PIN探测器输出线性动态范围

6.3 光电导探测器

6.3.1 引言

6.3.2 对辐射的灵敏度

6.3.3 CaAs和InP：Fe探测器的时间响应

6.3.4 CaAs和InP：Fe探测器中子辐照改性

6.3.5 全刚石光电导探测器

6.4 电荷耦合器件

6.4.1 CCD的结构和工作原理

6.4.2 CCD的性能

6.5 CR—39固态径迹探测器

6.5.1 CR—39固态径迹探测器工作原理

6.5.2 CR—39固态径迹探测器腐蚀径迹特征参数

6.5.3 CR—39固态径迹探测器带电粒子径迹辨别

6.5.4 CR—39固态径迹探测器中的噪声、本底和减小措施

6.5.5 CR—39固态径迹探测器在ICF中的应用

6.6 X射线分幅相机

6.6.1 MCP分幅相机的结构与工作原理

6.6.2 MCP分幅相机的主要性能

6.7 条纹相机

6.7.1 条纹相机的结构和工作原理

6.7.2 光阴极谱灵敏度

6.7.3 时间分辨率和影响因素

6.7.4 线性输出动态范围

6.7.5 空间分辨

6.7.6 触发时间晃动

6.8 X射线分幅相机和条纹相机在惯性约束聚变等诊断中的应用

6.8.1 X射线分幅相机的应用

6.8.2 条纹相机在激光—等离子体相互作用和惯性约束聚变中的应用

参考文献